天眼查App显示，2025年4月22日，「存储装置的VDT功能测试系统、方法、终端设备及存储介质」正式进入专利公布阶段。申请人为深圳佰维存储科技股份有限公司，该项信息存储领域专利涉及存储装置的电压检测功能测试技术。据专利信息显示，该技术实现了显著优化的研发效率与成本控制。发明人为孙成思、何瀚、王灿、姚瑶。 「本申请涉及存储测试技术领域，尤其涉及一种存储装置的VDT功能测试系统、方法、终端设备及存储介质。该测试系统包括系统处理器和存储装置，系统处理器和存储装置通过至少一条供电线路连接，供电线路上设置有电源管理芯片，电源管理芯片的控制引脚和系统处理器连接，电源管理芯片的电压输出引脚和存储装置连接；电源管理芯片用于接收来自系统处理器的控制信号，根据控制信号产生输出到存储装置的波动测试电压，以进行电压检测功能测试。通过该测试系统开发人员可以在早期研发阶段进行完善的VDT（Voltage Detector电压检测）功能测试，及时优化调整存储装置代码结构设计，降低研发成本。」

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