天眼查App显示，普冉半导体（上海）股份有限公司近日申请了一项名为“芯片测试程序生成方法、装置、电子设备及存储介质”的发明专利，专利号为CN202411928153.2，预计于2025年4月18日公布。该专利旨在通过自动化生成测试程序，提升芯片测试的开发效率和可靠性。

关键点：
1. 申请单位：普冉半导体（上海）股份有限公司。
2. 专利类型：发明专利，涉及半导体测试技术领域。
3. 核心内容：通过测试需求信息生成测试源代码，并编译为可执行代码，实现测试程序的自动化生成。
4. 公布时间：2025年4月18日。
5. 地址：上海市浦东新区申江路5005弄1号9层整层（实际楼层8楼）。

该专利的申请标志着普冉半导体在芯片测试技术领域的进一步创新，有望为行业带来更高的测试效率和稳定性。

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