天眼查App显示，导语：海目星激光科技集团股份有限公司于2024年12月5日申请了一项名为“一种上下测量芯片载板间隙的系统及方法”的发明专利，专利公布日期为2025年4月15日。该专利旨在解决芯片载板间隙测量中的技术难题。

关键点：
1. 专利名称：一种上下测量芯片载板间隙的系统及方法。
2. 申请人：海目星激光科技集团股份有限公司，地址位于广东省深圳市龙华区。
3. 申请时间：2024年12月5日。
4. 公布日期：2025年4月15日。
5. 专利类型：发明专利，分类号为G01B11/14。
6. 技术亮点：通过上下测距仪间接计算芯片载板间隙，无需光束穿透载板，解决了传统测量方法的局限性。

该专利的公布将推动芯片制造领域测量技术的进一步发展。

免责声明：本文内容由开放的智能模型自动生成，仅供参考。