天眼查App显示，导语：北京机械工业自动化研究所有限公司与北京理工大学卓越工程师学院联合申请了一项发明专利，涉及一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装置和设备，旨在提高缺陷检测精度。

关键点：
- 专利名称：一种自迭代的膜电极组件缺陷检测方法、装置和设备
- 申请时间：2025年3月14日
- 公布时间：2025年4月15日
- 核心内容：通过迭代训练模型，提升膜电极组件表面图像缺陷检测的精度
- 申请单位：北京机械工业自动化研究所有限公司、北京理工大学卓越工程师学院
- 专利类型：发明专利

该专利技术可广泛应用于膜电极组件的质量检测领域，助力工业生产效率提升。

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