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中芯国际集成电路制造(北京)有限公司与中芯国际集成电路制造(上海)有限公司联合申请的发明专利“存储器结构及其形成方法”于2025年4月15日正式公布。该专利旨在改善存储器的短沟道效应,提升性能。
关键点:
- 专利号: CN202311331623.2
- 公布时间: 2025年4月15日
- 申请人: 中芯国际(北京、上海)
- 核心技术: 提出一种通过增加有源层沟道长度来改善短沟道效应的方法,涉及垫层结构、浮栅和控制栅的设计。
- 地址: 北京市大兴区经济技术开发区文昌大道18号
- 代理机构: 北京集佳知识产权代理有限公司
如有疑问,可联系中芯国际进一步了解详情。
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