天眼查App显示，金卡智能集团股份有限公司于2024年3月29日申请了一项名为“器件老化时间监测系统”的实用新型专利，并于同年12月31日获得授权。该专利由岳远闯和赵永强共同发明，旨在解决器件老化测试过程中信息显示不便的问题。

该系统包括信息获取模块、信息分发模块和多个信息显示模块。信息获取模块负责采集器件老化信息，并通过信息分发模块将数据无线传输至对应的信息显示模块。这些显示模块被安装在器件老化车上，能够随着车辆的移动实时更新老化时间信息，从而方便操作人员在不同位置查看器件的老化状态。

金卡智能集团表示，该系统的应用将大幅提高老化测试的效率和准确性，特别是在大规模生产环境中，能够有效减少人工干预和操作失误。此外，系统的无线连接设计也降低了布线成本，提升了设备的灵活性和可维护性。

目前，该专利已进入授权阶段，预计将于2024年底正式投入使用。金卡智能集团计划将其广泛应用于电子器件、半导体等领域的老化测试中，进一步推动相关行业的技术进步。

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