裕太微电子股份有限公司发布新型芯片复位功能验证方法

天眼查App显示,裕太微电子股份有限公司近日在江苏省苏州市高新区科灵路78号4号楼201室公开了一项重要的发明专利,名为“一种芯片复位功能验证方法及系统”。该专利由马超力发明,申请号为CN202411250884.6,并于2024年9月6日公布。

该专利涉及芯片复位验证技术领域,提供了一种创新的验证方法。通过在测试用例基类中创建复位事件及其复位操作任务管理器,并在需要执行复位操作的环境组件中配置复位事件触发监控器,将复位事件放入待触发事件池。新测试用例在需要进行芯片复位功能验证时,根据预设的复位时间点调用复位操作任务管理器进行复位操作后触发待触发事件池中对应的复位事件。复位事件触发监控器在监测到对应的复位事件被触发时对相应的环境组件进行复位后操作,随后新测试用例生成激励输入至芯片中,以完成芯片复位功能验证。

该方法的显著优点在于各环境组件可以独立选择性地进行复位后操作,使得芯片复位功能验证过程更加灵活高效。这一创新技术有望在未来的芯片设计和测试中发挥重要作用,提升芯片的可靠性和性能。

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