天眼查App显示，上海安路信息科技股份有限公司在2024年9月23日申请了一项名为“芯片的同步开关噪声测试方法、装置及存储介质”的发明专利，该专利已于2024年12月31日公布。这项技术由翟文婷和沈费钦共同发明，旨在解决芯片测试中的效率问题。

该方法的核心在于确定待测芯片的被测I/O和干扰源I/O，并在最大驱动电流下进行同步开关噪声测试。通过这种方法，可以快速、准确地确定其他驱动电流下的芯片同步噪声测试结果，无需逐一在每一驱动电流条件下进行测试。这不仅节省了大量的测试时间，还提高了测试的准确性。

上海安路信息科技股份有限公司的这项创新技术，预计将对芯片测试行业产生重要影响，特别是在提高测试效率和降低成本方面。该公司的这一技术突破，展示了其在芯片测试领域的领先地位和创新能力。

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