上海感图网络科技有限公司推出晶圆背面缺陷检测新方法

天眼查App显示,上海感图网络科技有限公司近日公开了一项名为“晶圆背面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质”的发明专利,专利号为CN202411389128.1。该专利应用在晶圆缺陷检测领域,通过确定显微镜头在待检测点的目标焦距序列,获取目标图像序列,并进行图像融合处理,最终获得待检测晶圆背面的缺陷检测结果。

该技术的核心在于通过图像融合处理,节省晶圆图像融合的时间,从而提高晶圆背面缺陷检测的效率。这一创新方法有望在半导体制造领域带来显著的技术进步,提升生产效率和产品质量。

上海感图网络科技有限公司位于上海市闵行区,专注于图像处理和人工智能技术的研发。此次公开的专利展示了公司在晶圆检测领域的技术实力,未来有望在半导体行业中得到广泛应用。

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