天眼查App显示，苏州华兴源创科技股份有限公司于2024年10月11日申请了一项名为“芯片测试系统、方法、计算机设备、可读存储介质和程序产品”的发明专利，并于2024年12月31日正式公布。该专利涉及一种创新的芯片测试系统，旨在提高测试效率并降低测试成本。

该芯片测试系统包括控制模块、电源模块和信号转换模块。其中，电源模块和信号转换模块设置在测试环境中，而控制模块则位于测试环境之外。控制模块负责获取测试参数信息并发送至电源模块，两者之间还设有信号增强模块，以确保信号的稳定传输。电源模块根据测试参数信息生成测试电力参数信息，信号转换模块则接收这些数据并进行协议转换，最终将目标电力参数数据发送至待测芯片，驱动其工作并获取测试数据。

该专利的发明人王肖和孙百勋表示，这一系统通过优化测试流程和增强信号传输，能够显著提高芯片测试的产能，同时降低测试成本。这一创新技术有望在未来的芯片测试领域发挥重要作用，推动相关行业的技术进步。

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